Современные рентгеновские аппараты в химии

 

Спектрометр рентгеновский кристалл-дифракционный  вакуумный «Спектроскан Макс GV»

Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры. Спектрометр может применяться в различных отраслях наукии техники для анализа элементного состава вещества.

Аналитические характеристики

Диапазон определяемых элементов	от 11Ca до 94Pu
Типы образцов	жидкие, твердые, порошки, фильтры, пленки
Пределы обнаружения, L для лёгкой матрицы  (экспозиция - 100 сек)	Na — 1x10-1 %, Mg, — 1x10-2 %, Al — 1x10-3 %,  Si — 5x10-4 %, P — 5x10-4 %, Cd, Pb — 5x10-4 %  S, Ti, V, Cr — 1x10-4 %,Co, Ni — 5x10-5 %,
Диапазон определяемых содержаний  без специальной пробоподготовки  со специальной пробоподготовкой	от 3L до 100%  от 0,005 L
Способ выделения  линий спектра	дифракция на кристалле
Время количественного  анализа пробы	от 3 минут
Время одного элементоопределения	от 10 до 100 секунд
Рентгенооптическая  схема	по Иоганссону
Энергетическое  разрешение	9 эВ (Si Ka) 60 эВ ( Fe Ka)
Собственная аппаратурная погрешность	0,5 %

 

Характеристики

Напряжение  на аноде рентгеновской трубки - (max)	50 кВ
Кристалл-анализаторы  по Иогану и Иогансону	LiF(200), C, PET, KAP, ML (44E)
Пробозагрузочное  устройство	Автоматическое  на 10 образцов с вращением диаметром до 40 мм
Радиационная  безопасность	освобождён  от регламентации по радиационному фактору
Габаритные  размеры и масса:  Спектрометрический блок  блок высоковольтного источника питания  блок вакуумного насоса	550ґ450ґ450 мм; 70 кг       240ґ440ґ450 мм; 30 кг       130ґ200ґ320 мм; 15 кг
Питание  Потребляемая мощность от сети 220 B	~220 В, 50 Гц, ~ 380 В         850 Вт
Интерфейс с  ЭВМ	RS-232

 

Анализатор содержания серы в нефти и нефтепродуктах «Спектроскан S»

Рентгенофлуоресцентный  энергодисперсионный анализатор предназначен для определения массовой доли серы в нефти и нефтепродуктах в  соответствии с ГОСТ Р 51947-2002, ASTM D 4294-98.

Конструктивные особенности

• Уникальное боковое расположение кюветы с пробой в кюветном отделении.
• Исключена необходимость в дополнительной защите от пролива пробы.
• Проба расположена максимально близко к трубке и детектору.
• Встроенные компьютер, клавиатура, дисплей, принтер.

Аналитические параметры

Определяемый  элемент	S (сера)
Нижний предел обнаружения за 200 с	5 ppm
Нижний предел количественного определения	0.002%
Рабочий диапазон концентраций	Два диапазона - до 0,1%; от 0,1% до 5%
Верхний предел определения	Не ограничен
Способ выделения  линии серы	Энергодисперсионный канал со спектральными фильтрами
Собственная аппаратурная погрешность	<0,5% относительных
Время измерения двух параллельных проб (1 образец)	От 2 минут
Время экспозиции	От 10 до 100 с

 

Технические параметры

Пробозагрузочное  устройство	Боковое, на один образец
Кюветы: диаметр, объем	диаметр 32 мм, V от 5 до 8 см 3
Мощность рентгеновской  трубки	P =0,75 Вт
Интерфейс	Встроенный  дисплей и термопринтер (лента 56 мм)
Габаритные  размеры и масса	335 x 310 x 160 мм, 8 кг
Энергопотребление	220 В, ~ 50 Гц , 100 Вт

Приборы фирмы «Helmut Fischer»

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 120

Высокопроизводительный  рентгенофлуоресцентный спектрометр  для неразрушающего анализа состава  сплавов из золота и серебра.

Особенности

• Предназначен для экономичного анализа сплавов из золота
• Фиксированный размер коллиматора и фиксированный фильтр позволяют осуществлять анализ драгоценных металлов
• При использовании совместно с полупроводниковым детектором применим для более комплексного анализа
• Измерение производится снизу вверх, что дает возможность быстрого и простого позиционирования образца

Области применения

• Анализ золота и драгоценных металлов в области изготовления ювелирных изделий и часов
• Стоматологический сплав

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220

Рентгенофлуоресцентный  спектрометр для быстрого и неразрушающего анализа состава сплавов золота и серебра.

FISCHERSCOPE X-RAY XAN

Высокопроизводительный  рентгенофлуоресцентный спектрометр для неразрушающего измерения толщины покрытий и анализа состава материалов.

Особенности

• Универсальный прибор премиум класса с широкими возможностями измерений
• Полностью закрытая измерительная камера
• Направление измерения снизу вверх дает возможность быстрого и простого позиционирования образца
• Высокая гибкость измерений за счет размера измерительного пятна и спектрального состава
• Возможность обработки высоких мощностей, более 100 килоимпульсов в секунду, без потери разрешающей способности энергии при помощи датчика SDD (silicon drift detector)
• Идеален для анализа золотых сплавов и для анализа на микроэлементы для выявления опасных веществ в пластике

Области применения

• Анализ драгоценных металлов и золота в области изготовления ювелирных изделий и часов
• Измерение тонких покрытий (нанометрового диапазона) из серебра и палладия на печатных платах и электронных компонентах
• Анализ на микроэлементы, например, исследование опасных веществ в электронных компонентах и механизмах RoHS
• Анализ легких элементов,таких,как алюминий, кремний, фосфор
• Общий анализ материалов и измерение толщины покрытий.

FISCHERSCOPE X-RAY XA^® 250

Высокопроизводительный рентгенофлуоресцентный спектрометр для быстрого и неразрушающего анализа состава материалов и измерения толщины покрытий.

Особенности

• Универсальный прибор премиум класса с широкими возможностями измерений
• 4 сменных коллиматора и 6 сменных фильтров
• При использовании совместно с полупроводниковым детектором применим для более комплексного анализа
• Измерения производятся снизу вверх, что дает возможность быстрого и простого позиционирования образца

Области применения

• Измерение функциональных покрытий от нескольких нанометров в электронной и полупроводниковой промышленности
• Анализ на микроэлементы в целях защиты потребителей, к примеру, выявление свинца в составе игрушек
• Анализ состава сплавов при очень высоких требованиях точности в ювелирной и часовой промышленности и при переработке металлов
• Исследовательская деятельность в университетах и в промышленности

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

Рентгенофлуоресцентный спектрометр с программируемым измерительным столом (X/Y - платформа) и перемещением измерительного модуля (трубка с детектором, ось Z) по вертикали для автоматического неразрушающего измерения толщины покрытий и анализа состава материалов

Особенности

• При помощи полупроводникового детектора расширены возможности элементного анализа и измерений тонких поверхностей, благодаря оптимальному сотношению сигнал/шум
• Микрофокусная трубка обеспечивает маленькие размеры измерительного пятна, но в связи с более низкой мощностью, менее подходит для несложных структур
• Большая и просторная измерительная камера с выключателем (C-slot)
• Быстрая, программируемая XY-платформа выдвигается за пределы измерительной камеры для простоты позиционирования образца

Области применения

• Анализ материалов покрытий и сплавов(также очень тонких покрытий и растворов электролитов)
• Анализ поступающей продукции и контроль в процессе производства
• Научно-исследовательская работа
• Электронная промышленность
• Разъемы и контакты
• Производство ювелирных изделий, золота и часов
• Измерение тонких покрытий из серебра и палладия при производстве печатных плат
• Анализ на микроэлементы
• Определение свинца для приборов "высокой надежности"
• Анализ покрытий твердых материалов

 

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Высокоэффективный рентгенофлуоресцентный спектрометр  с программируемым измерительным  столом (X/Y - платформа) и перемещением измерительного модуля (трубка с детектором, ось Z) по вертикали для неразрушающих измерений толщин очень тонких покрытий и микроэлементного анализа.

Особенности

• Модель премиум класса с универсальными характеристиками
• Высокая гибкость измерений за счет размера измерительного пятна и спектрального состава
• Возможность обработки высоких мощностей, более 100 килоимпульсов в секунду, без потери разрешающей способности энергии при помощи датчика SDD (silicon drift detector)
• Очень низкие пределы обнаружения и отличная повторяемость
• Большая измерительная камера
• Автоматические измерение серий образцов при помощи программируемого измерительного стола (X/Y - платформа)

Области применения

• Измерение очень тонких покрытий, например, в электронной и полупроводниковой промышленности
• Анализ на микроэлементы, распознавание опасных веществ в соединениях в соответствии с правилами ограничения содержания вредных веществ (RoHS), нормами производства игрушек, нормами упаковки
• Высокоточный анализ золота и драгоценных металллов
• Фотогальваническая промышленность
• Измерение толщины и состава NiP покрытий

FISCHERSCOPE X-RAY XUV 773

Высокопроизводительный  рентгенофлуоресцентный спектрометр с вакуумной камерой для неразрушающего измерения толщины покрытий и анализа состава материалов.

Особенности

 Универсальный прибор премиум класса с широкими возможностями измерений

• Измерительная камера с возможностью вакуумирования позволяет анализировать легкие элементы от Z=11 (Na)
• Автоматический контроль партий изделий при помощи прецизионного программируемого измерительного стола.
• Видеокамера для точного позиционирования образцов и для измерений маленьких образцов.