Автоматизированная система измерения амплитудных и амплитудно-частотных характеристик усилителей
Курсовая работа, 19 Декабря 2013, автор: пользователь скрыл имя
Описание работы
Автоматизированная система измерения амплитудных и амплитудно-частотных характеристик усилителей.
Разработать автоматизированную систему снятия амплитудных и амплитудно-частотных характеристик усилителей. Система включает в себя измерительный канал и канал формирования испытательных сигналов. Содержание расчетно-пояснительной записки (перечень подлежащих разработке вопросов к исходные данные к ним):
1. Провести обзорную проработку темы работы (назначение, аналоги, актуальность разработки).
2. Разработать структурную и функциональную схемы системы.
3. Провести расчет системных параметров и обоснование выбора микропроцессорной части измерительного канала
Содержание работы
Задание на курсовую работу…………………………………………3
Анализ задания и обзор тематики……………………………………4
Разработка функциональной схемы………………………………… 7
Выбор аппаратной части………………………………………………12
Список литературы…………………………………………………..13
Файлы: 1 файл
111.docx
— 195.80 Кб (Скачать файл).
Пусть ΔtК = 200 нс, ΔtВ = 100 нс, у выбранного АЦП ΔtЦАП = 400 нс, тогда длительность ввода информации в ЭВМ не должна превышать:
мкс.
Для обеспечения погрешности 0,1% необходимо выполнить условие:
.
Разрядность ЦАП определяется необходимой разрядностью микроконтроллера на формирование испытательного сигнала. Разрядность находится исходя из дискретности установки частоты и формирования амплитуды в заданном диапазоне.
Выберем N = 12.
Максимальная частота имитируемого сигнала равна 10 кГц. Поэтому частоту среза фильтра нижних частот можно задать 11 кГц.
Погрешность восстановления аналогового сигнала зависит от применяемой интерполяции при восстановлении сигнала. Если рассматривать в качестве идеального фильтра ФНЧ, то, например, фильтр Баттеворта по эффективности приближается к устройствам, осуществляющим линейную интерполяцию, особенно с ростом порядка фильтра.
Относительный квадрат ошибки восстановления для интерполирующих фильтров рассчитывается по формуле:
,
где fmax – максимальная частота в спектре сигнала; m – порядок фильтра; T – период коммутации (время выборки ΔtВ или шаг дискретизации).
На практике для уменьшения погрешности восстановления шаг дискретизации (время выборки) выбирают из соотношения
ΔtВ=1/(k2fmax),
причем k=5¸10.
При T = 10 мкс и m = 3 получим, что .
Выбор аппаратной части
Выбор микроконтроллера будем производить исходя из полученных требований:
- наличие 12-разрядного АЦП
- наличие 12-разрядного ЦАП
- наличие внешнего интерфейса
- возможность подключения или наличие 16-битного регистра памяти
- Общее количество программируемых выходов >10
Поиск будем проводить на сайте производителей. Под наши условия (и даже с запасом) подходит MSP430F2619S-HT фирмы Texas Instruments [6]
Рис. 3 |
Low Supply Voltage Range 1.8 V to 3.6 V
- Ultralow-Power Consumption
- Active Mode: 365 µA at 1 MHz, 2.2 V
- Standby Mode (VLO): 0.5 µA
- Off Mode (RAM Retention): 0.1 µA
- Wake-Up From Standby Mode in Less than 1 µs
- 16-Bit RISC Architecture, 62.5-ns Instruction Cycle Time
- Three-Channel Internal DMA
- 12-Bit Analog-to-Digital (A/D) Converter
With Internal
Reference, Sample-and-Hold, and Autoscan Feature - Dual 12-Bit Digital-to-Analog (D/A)
Converters With
Synchronization - 16-Bit Timer_A With Three Capture/Compare Registers
- 16-Bit Timer_B With Seven Capture/Compare-With-Shadow
Registers - On-Chip Comparator
- Four Universal Serial Communication Interfaces (USCIs)
- USCI_A0 and USCI_A1
- Enhanced UART Supporting Auto-Baud-Rate Detection (LIN)
- IrDA Encoder and Decoder
- Synchronous SPI
- USCI_B0 and USCI_B1
- I2C™
- Synchronous SPI
- Supply Voltage Supervisor/Monitor With Programmable Level Detection
- Brownout Detector
- Bootstrap Loader
- Serial Onboard Programming, No External
Programming Voltage Needed
Programmable Code Protection by Security Fuse - MSP430F2619S
120 kB + 256 B Flash Memory, 4 kB RAM - Available in 64-Pin QFP and KDG Packages
- For Complete Module Descriptions,
Refer to the MSP430x2xx
Family User’s Guide (SLAU144) - APPLICATIONS
- Controlled Baseline
- One Assembly/Test Site
- One Fabrication Site
- Extended Product Life Cycle
- Extended Product-Change Notification
- Product Traceability
- Texas Instruments high temperature
products utilize highly optimized silicon (die)
solutions with design and process enhancements to maximize performance over extended
temperatures.
Список литературы
- Кудреватых Е.Ф. «Общие принципы измерения характеристик электронных устройств» URL: http://kipinfo.ru/info/stati/?
id=11 . - Мирский Г.Я. Электронные измерения: 4-е изд., перераб. и доп. – М.: Радио и связь, 1986. – 440 с., ил. ББК 32.842, УДК 621.317.3(024).
- Википедия URL: http://ru.wikipedia.org/
- Проектирование автоматизированных систем измерения, контроля и управления РЭС: Учебное пособие. Казань: Изд-во Казан. гос. техн. ун-та, 1999. 40 с. УДК 681.518.3
- Texas Instruments, URL: http://www.ti.com/