Дифракция рентгеновских лучей кристаллическим веществом
Реферат, 14 Ноября 2013, автор: пользователь скрыл имя
Описание работы
При взаимодействии атомов кристаллической решетки с проходящим через них рентгеновским излучением имеет место дифракционный эффект, при котором по определенным направлениям возникают вторичные (дифрагированные) лучи. Рассмотрим явление дифракции как отражение от определенных серий плоскостей.
Файлы: 1 файл
Конструкции рентгеновских аппаратов.docx
— 85.28 Кб (Скачать файл)Идентификация глинистых
минералов производится преимущественно
по отражениям от так называемых базальных
плоскостей, которые имеют индексы
001. Поскольку глинистые минералы
обычно тонкодисперсны и часто плохо
окристаллизованы, очень важно, чтобы
максимальное число кристаллитов попало
в отражающее положение в малоугловой
области, в которой регистрируется
большинство базальных
В ряде случаев бывает необходимо получать от глинистых минералов не только базальные, но и другие рефлексы. При работе методом камерной съемки небазальные (общие) отражения получают при съемке неориентированных препаратов, а также при вращении столбика образца в камере вокруг своей оси.
При диагностике глинистых минералов по рентгенограммам необходимо учитывать, что ряд глинистых минералов дает сходный набор рефлексов. Для того чтобы правильно идентифицировать эти минералы, применяют систему обработок: насыщение минералов глицерином или этиленгликолем, прокаливание при различных температурах, насыщение различными катионами и другие.
Поскольку кристаллические
решетки различных глинистых
минералов по-разному